季丰RA新增热阻测试新仪器
季丰RA实验室最新引进了T3Ster 瞬时热阻量测仪、T3Ster Booster增压稳压系统、Power Tester功率循环信赖性测试。
适用范围
各种三极管、二极管等半导体分立器件，包括:常见的半导体闸流管、双极型晶体管、以及大功率IGBT、MOSFET、LED等器件;
各种复杂的IC以及MCM、SIP、SoC等新型结构;
各种复杂的散热模组的热特性测试，如热管、风扇等。
功能
半导体器件结温测量;半导体器件稳态热阻及瞬态热阻抗测量;
特点
非破坏性测试
精度最高
重复性最好
瞬态响应好
结构函数可分析散热系统内部结构
符合JEDEC51-14标准
创新实现JEDEC51-1静态测试
高达1us的采样率，
64K的采样存储空间
1us高速电源切换
最小电压分辨率12uV
结温分辨率0.01℃
结构函数用于分析内部构造，热测试中地“X射线”
