季丰电子新增一台蔡司亚微米级X射线显微镜Xradia 620 Versa
季丰电子新增一台蔡司亚微米级X射线显微镜Xradia 620 Versa，这款X射线显微镜的系统提供了高功率的X射线源，显著提高X射线通量，从而加快了断层扫描速度。工作效率提高达两倍，而且不会影响空间分辨率，图像质量明显改善。
传统3D X-Ray实测图片体素分辨率：2.2um
ZEISS Xradia实测图片体素分辨率：0.8um
ZEISS Xradia 620 Versa技术特点：
620通过将两级放大结构与高通量 X 射线源技术相结合实现大工作距离下大尺寸样品的高分辨率成像，最高分辨率可达0.5um，最高空间分辨率500nm，最小体素40 nm。
电压范围：30KV-160KV。最大输出功率：25W。
样品台承载负荷。
样品台行程：50mm*100mm*50mm
3D XRay应用：
通过无损成像进行封装产品的缺陷分析、Wirebond 、Bumps、PCB板中短路、断裂、裂纹等问题。通常运用在破坏性失效分析之前进行三维可视化构建，减少人为切片引入的假象缺陷，从而提高失效分析的成功率。
高阶3D X-Ray 清晰照片如下：
